材料分析服务

25-05-2017

扫描电子显微镜(SEM)由一束细聚焦的电子束轰击样品表面,入射电子与样品的原子核和核外电子发生作用,激发出反映样品形貌、结构和组成的各种信号。 STC最新引进先进的扫描电子显微镜(SEM),最高分辨率可达3nm,标配有二次电子探头和4分割背散射电子探头,并配备了能谱仪(EDS),这种设备广泛应用于金属、半导体、陶瓷、纺织品等领域,可用于材料表面形貌的分析和微区的化学元素成分分析。 STC拥有先进的技术,可提供广泛的快速的材料分析服务。

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